Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Semiconductors
Erschienen in: Semiconductors 13/2016

01.12.2016 | Materials for Electronic Engineering

Method of investigation of galvanomagnetic properties of Cd x Hg1 − x Te and Cd x Hg1 − x Te/Cd1 − y Zn y Te

verfasst von: V. A. Golubyatnikov, A. P. Lysenko, A. G. Belov, V. E. Kanevskii

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 13/2016

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …
Vorheriger Artikel Methods of accounting for inclusion-shape randomness in calculating the effective dielectric characteristics of heterogeneous textured materials
Nächster Artikel Effect of ionic Ag+ transfer on localization of metal-assisted etching of silicon surface

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Metadaten
Titel
Method of investigation of galvanomagnetic properties of Cd x Hg1 − x Te and Cd x Hg1 − x Te/Cd1 − y Zn y Te
verfasst von
V. A. Golubyatnikov
A. P. Lysenko
A. G. Belov
V. E. Kanevskii
Publikationsdatum
01.12.2016
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 13/2016
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063782616130030

Weitere Artikel der Ausgabe 13/2016

Semiconductors 13/2016 Zur Ausgabe

Materials for Electronic Engineering

Interaction of electromagnetic radiation with magnetically functionalized CNT nanocomposite in the subterahertz frequency range

Microelectronic Devices and Systems

The effect of the electron–phonon interaction on reverse currents of GaAs-based p–n junctions

Microelectronic and Nanoelectronic Technology

Effect of ionic Ag+ transfer on localization of metal-assisted etching of silicon surface

Methods and Technique of Measurements

Measurements of electrophysical characteristics of semiconductor structures with the use of microwave photonic crystals

Materials for Electronic Engineering

Methods of accounting for inclusion-shape randomness in calculating the effective dielectric characteristics of heterogeneous textured materials

Methods and Technique of Measurements

Study of the structure and composition of the strained epitaxial layer in the InAlAs/GaAs(100) heterostructure by transmission electron microscopy