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Erschienen in:

04.06.2023

Mg2Si heterostructure-based SOI TFET with steep subthreshold swing and high current drivability

verfasst von: Sukanta Kumar Swain, Sangita Kumari Swain, Shashi Kant Sharma

Erschienen in: Journal of Computational Electronics | Ausgabe 4/2023

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Abstract

We present the results of a simulation study of Mg2Si heterojunction-based SOI TFETs using TCAD. Mg2Si is used as low-bandgap material for the source to achieve high on-current. The proposed structure enhances the tunneling rate that improves current conduction and subthreshold swing considerably. The on-current (ION), off-current (IOFF), and subthreshold swing were found to be 1.089 × 10−5A/μm, 8.632 × 10−17A/μm, 1.26 × 1011, and 27 mV/decade, respectively. Further, a systematic study for the physical interpretation of electron Fermi potential, DC, and analog/RF performance has also been carried out. The proposed device follows the ITRS roadmap for low power switching performance.

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Literatur
28.
Zurück zum Zitat Zhang, Q., Zhao, W., Member, S., Seabaugh, A.: Low-subthreshold-swing tunnel transistors. IEEE Electron Device 27(4), 297–300 (2006)CrossRef Zhang, Q., Zhao, W., Member, S., Seabaugh, A.: Low-subthreshold-swing tunnel transistors. IEEE Electron Device 27(4), 297–300 (2006)CrossRef
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Zurück zum Zitat Bae, T.E., Kato, K., Suzuki, R., Nakane, R., Takenaka, M., Takagi, S.: Influence of impurity concentration in Ge sources on electrical properties of Ge/Si hetero-junction tunneling field-effect transistors. Appl. Phys. Lett. 113(6), 1–5 (2018). https://doi.org/10.1063/1.5028529CrossRef Bae, T.E., Kato, K., Suzuki, R., Nakane, R., Takenaka, M., Takagi, S.: Influence of impurity concentration in Ge sources on electrical properties of Ge/Si hetero-junction tunneling field-effect transistors. Appl. Phys. Lett. 113(6), 1–5 (2018). https://​doi.​org/​10.​1063/​1.​5028529CrossRef
Metadaten
Titel
Mg2Si heterostructure-based SOI TFET with steep subthreshold swing and high current drivability
verfasst von
Sukanta Kumar Swain
Sangita Kumari Swain
Shashi Kant Sharma
Publikationsdatum
04.06.2023
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Computational Electronics / Ausgabe 4/2023
Print ISSN: 1569-8025
Elektronische ISSN: 1572-8137
DOI
https://doi.org/10.1007/s10825-023-02051-7