Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Erschienen in:
Scope of Technical Diagnostics Kapitel lesen Erstes Kapitel lesen

2013 | OriginalPaper | Buchkapitel

14. Micro-Diagnostics: X-ray and Synchrotron Techniques

verfasst von : Bernd Randolf Müller, Manfred Paul Hentschel

Erschienen in: Handbook of Technical Diagnostics

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

Beyond classical X-ray techniques are used for the purpose of preferably short-term applications, but some supplementary X-ray and synchrotron techniques for higher resolution microdiagnostics take advantage of scattering effects. In contrast to directly imaging methods their resolution is only limited by the diffraction limit of the X-ray wavelength, far below the atomic dimensions. These techniques of scanning topography and refraction synchrotron tomography may permit the systematic diagnostics for finding and exploiting structure/property relations like correlations among atomic, nano and microstructures with macroscopic properties. Their basic advantage over microscopic techniques is their potential for the non-destructive characterisation of materials, far from invasive sample treatments. They combine scattering and spatial resolution.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Vorheriges Kapitel Embedded Sensors
Nächstes Kapitel Surface Chemical Analysis at the Micro- and NanoScale
Literatur
1.
Lang, A.R.: Topography, x-ray diffraction. In: Clark, G.L. (ed.) The Encyclopedia of X-rays and Gamma Rays, vol. 1053. Reinhold Publishing Corporation, New York (1963)
2.
Debye, P.: Zerstreuung von Röntgenstrahlen. Ann. Physik. 46, 809 (1915)
3.
Porod, G.: Die Röntgenkleinwinkelstreuung von dichtgepackten kolloiden Systemen I. Teil. Kolloid-Zeitschrift und Zeitschrift für Polymere 124(2), 83–114 (1951)
4.
Guinier, A., Fournet, G.: Small angle scattering of x-rays. Chapman & Hall, London (1955)
5.
Hentschel, M.P., Harbich, K.-W., Lange, A.: Non-destructive evaluation of single fiber debonding by x-ray refraction. NDT and E Int. 27, 275–280 (1994)CrossRef
6.
Hentschel, M.P., Hosemann, R., Lange, A., Uther, B., Brückner, R.: Röntgenkleinwinkelbrechung an Metalldrähten, Glasfäden und hartelastischem Polypropylen. Acta Cryst. A 43, 506–513 (1987)CrossRef
7.
Hentschel, M.P., Lange, A., Harbich, K.-W., Ekenhorst, D., Schors, J.: Röntgentopographie der Faser- und Polymerorientierung. Materialprüfung/materials testing. 39, 121–123 (1997)
8.
Hentschel, M.P., Lange, A., Schors, J., de Rooij, T., Judd, M.D.: Fibre direction and content in composites—x-ray rotation topography of satellite reflectors. Materialprufung 43(6), 248–253 (2001)
9.
Compton, A.H., Allison, S.K.: X-rays in theory and experiment. Macmillan, London (1935)
10.
Harbich, K.-W., Hentschel, M.P., Schors, J.: X-ray refraction characterization of non-metallic materials. NDT& E Int. 34, 297 (2001)CrossRef
11.
12.
Görner, W., Hentschel, M.P., Muller, B.R., Riesemeier, H., Krumrey, M., Ulm, G., Diete, W., Klein, U., Frahm, R.: BAMline: the first hard x-ray beamline at BESSY II. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. A-Accel. Spectrom. Dect. Assoc. Equip. 467, 703–706 (2001)CrossRef
13.
Rack, A., Zabler, S., Müller, B.R., Riesemeier, H., Weidemann, G., Lange, A., Goebbels, J., Hentschel, M., Görner, W.: High resolution synchrotron-based radiography and tomography using hard x-rays at the BAMline (BESSY II). Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. A 586, 327–344 (2008)CrossRef
14.
Müller, B.R., Lange, A., Harwardt, M., Hentschel, M.P., Illerhaus, B., Goebbels, J., Bamberg, J., Heutling, F.: Refraction computed tomography—application to metal matrix composites. Materialprufung 46(6), 314–319 (2004)
15.
16.
Bragg, W.H., Bragg, W.L.: The reflection of x-rays by crystals. Proc. R. Soc. Lond. Series a-Containing Pap. Math. Phys. Charact. 88(605), 428–438 (1913)CrossRef
17.
Antunes, A., Honnicke, M.G., Safatle, A.M.V., Cusatis, C., Moraes Barros, P.S., Morelhao, S.L.: Diffraction enhanced x-ray imaging of mammals crystalline lens. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 238(1–4), 28–31 (2005)CrossRef
18.
Chapman, D., Thomlinson, W., Johnston, R.E., Washburn, D., Pisano, E., Gmur, N., Zhong, Z., Menk, R., Arfelli, F., Sayers, D.: Diffraction enhanced x-ray imaging. Phys. Med. Biol. 42(11), 2015–2025 (1997)CrossRef
19.
Mollenhauer, J., Aurich, M.E., Zhong, Z., Muehleman, C., Cole, A.A., Hasnah, M., Oltulu, O., Kuettner, K.E., Margulis, A., Chapman, L.D.: Diffraction-enhanced x-ray imaging of articular cartilage. Osteoarthritis Cartilage 10(3), 163–171 (2002)CrossRef
20.
Muehleman, C., Li, J., Zhong, Z.: Preliminary study on diffraction enhanced radiographic imaging for a canine model of cartilage damage. Osteoarthritis Cartilage 14(9), 882–888 (2006)CrossRef
21.
Rocha, H.S., Pereira, G.R., Faria, P., Kellermann, G., Mazzaro, I., Tirao, G., Giles, C., Lopes, R.T.: Diffraction-enhanced imaging microradiography applied in breast samples. Eur. J. Radiol. (In Press) corrected proof (2008)
22.
Sun, Y., Zhu, P., Yu, J., Chen, X.: Computerized tomography based on DEI refraction information. Comput. Med. Imaging Graph. 31(6), 383–389 (2007)CrossRef
23.
Zhong, Z., Thomlinson, W., Chapman, D., Sayers, D.: Implementation of diffraction-enhanced imaging experiments: at the NSLS and APS. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. A 450(2–3), 556–567 (2000)CrossRef
24.
Coan, P., Mollenhauer, J., Wagner, A., Muehleman, C., Bravin, A.: Analyzer-based imaging technique in tomography of cartilage and metal implants: A study at the ESRF. Eur. J. Radiol. (In Press) corrected proof (2008)
25.
Issever, A.S., Diederichs, G., Majumdar, S., Rogalla, P., Hamm, B.K., Lange, A., Harwardt, M., Hentschel, M.P., Mueller, B.R.: Analyser-based tomography images of cartilage. J. Synchrotron. Rad. 15(5), 525–527 (2008). doi:10.​1107/​S090904950801482​9 CrossRef
Metadaten
Titel
Micro-Diagnostics: X-ray and Synchrotron Techniques
verfasst von
Bernd Randolf Müller
Manfred Paul Hentschel
Copyright-Jahr
2013
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Handbook of Technical Diagnostics

Print ISBN: 978-3-642-25849-7

Electronic ISBN: 978-3-642-25850-3

Copyright-Jahr: 2013

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-25850-3_14

Neuer Inhalt

    Bildnachweise