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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 11/2016

04.07.2016

Micromorphology and fractal analysis of nickel–carbon composite thin films

verfasst von: Ştefan Ţălu, Carlos Luna, Azin Ahmadpourian, Amine Achour, Ali Arman, Sirvan Naderi, Nader Ghobadi, Sebastian Stach, Behroz Safibonab

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 11/2016

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Abstract

In this study nickel–carbon (Ni–C) nanocomposite thin films composed of Ni nanoparticles with different average sizes embedded in amorphous hydrogenated carbon, were prepared through the combination of radio frequency sputtering and plasma enhanced chemical vapor deposition techniques. Such samples were used as experimental models to study the three dimensional surface morphology properties in thin films by atomic force microscopy imaging and fractal analysis over square areas of 1 μm × 1 μm. The deposition time was varied at 7, 10 and 13 min, respectively, to study changes in the properties of the obtained films. The studied samples exhibited fractal properties characterized by fractal dimensions dependent on the deposition time with values between 2.43 ± 0.01 and 2.71 ± 0.01.
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Metadaten
Titel
Micromorphology and fractal analysis of nickel–carbon composite thin films
verfasst von
Ştefan Ţălu
Carlos Luna
Azin Ahmadpourian
Amine Achour
Ali Arman
Sirvan Naderi
Nader Ghobadi
Sebastian Stach
Behroz Safibonab
Publikationsdatum
04.07.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 11/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-5268-9

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