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01.06.2013 | Review Article | Ausgabe 2/2013
Microstructural characterization of polycrystalline materials by synchrotron X-rays
Zeitschrift:
Frontiers of Materials Science
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Ausgabe 2/2013
Autoren:
Leyun Wang, Meimei Li, Jonathan Almer, Thomas Bieler, Rozaliya Barabash
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Titel
Microstructural characterization of polycrystalline materials by synchrotron X-rays
Autoren:
Leyun Wang Meimei Li Jonathan Almer Thomas Bieler Rozaliya Barabash
Publikationsdatum
01.06.2013
DOI
https://doi.org/10.1007/s11706-013-0201-0
Verlag
SP Higher Education Press
Marktübersichten
Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.
Bildnachweise
MKVS, Nordson/© Nordson, ViscoTec/© ViscoTec, Robatech/© Robatech, Krahn Ceramics/© Krahn Ceramics, Hellmich GmbH/© Hellmich GmbH, Merz+Benteli/© Merz+Benteli