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2016 | OriginalPaper | Buchkapitel

6. Mixer Reliability

verfasst von : Jiann-Shiun Yuan

Erschienen in: CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

This chapter talks about millimeter-wave mixer reliability subjected to electrical stress. Transistor stress data in additional to mixer performance before and after stress are provided.

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Literatur
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Metadaten
Titel
Mixer Reliability
verfasst von
Jiann-Shiun Yuan
Copyright-Jahr
2016
Verlag
Springer Singapore
Buch
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability

Print ISBN: 978-981-10-0882-5

Electronic ISBN: 978-981-10-0884-9

Copyright-Jahr: 2016

DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-0884-9_6

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    Bildnachweise