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Erschienen in:
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2010 | OriginalPaper | Buchkapitel

15. NAND design for testability and testing

verfasst von : Andrea Silvagni

Erschienen in: Inside NAND Flash Memories

Verlag: Springer Netherlands

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Abstract

NAND business requires huge investments in technology developments and manufacturing. Moreover, leading edge NAND Flash memory costs and yield issues increase with every new technology node. Addressing test issues is mandatory for NAND Flash manufacturers to accelerate yield learning and enhancement, maintaining a competitive cost structure.

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Metadaten
Titel
NAND design for testability and testing
verfasst von
Andrea Silvagni
Copyright-Jahr
2010
Verlag
Springer Netherlands
Buch
Inside NAND Flash Memories

Print ISBN: 978-90-481-9430-8

Electronic ISBN: 978-90-481-9431-5

Copyright-Jahr: 2010

DOI
https://doi.org/10.1007/978-90-481-9431-5_15

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