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2021 | OriginalPaper | Buchkapitel

Nanowire Field-Effect Transistors

verfasst von : Junichi Motohisa, Shinjiro Hara

Erschienen in: Fundamental Properties of Semiconductor Nanowires

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Vertical field-effect transistors (FETs) using semiconductor nanowires (NWs) formed by bottom-up approach are expected to outperform conventional planar transistors owing to their compatibility with surrounding-gate (SG) structures, possible heterogeneous integration with various kinds of materials including Si, and so on. In this chapter, basics, current status, and the possibility of vertical NW-FETs are described. We first introduce the importance of SG geometry from a viewpoint of the device application as well as the general advantage of vertical NW-FETs. Next, the fabrication of the NWs, where the site controllability is important for FET applications, are described with the main emphasis on the selective-area (SA) growth. Then, the current status and some of the issues for further development of their performances are explained. Some of the new directions including tunnel FETs (TFETs) and spin FETs to go beyond the classical limit of the FET will also be described before the summary of this chapter.

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Literatur
24.
Zurück zum Zitat A. Veloso, E. Altamirano-Sanchez, S. Brus, B.T. Chan, M. Cupak, M. Dehan, C. Delvaux, K. Devriendt, G. Eneman, M. Ercken, T. Huynh-Bao, T. Ivanov, P. Matagne, C. Merckling, V. Paraschiv, S. Ramesh, E. Rosseel, L. Rynders, A. Sibaja-Hernandez, S. Suhard, Z. Tao, E. Vecchio, N. Waldron, D. Yakimets, K. De Meyer, D. Mocuta, N. Collaert, A. Thean, ECS Trans. 72(4), 31 (2016). https://doi.org/10.1149/07204.0031ecstCrossRef A. Veloso, E. Altamirano-Sanchez, S. Brus, B.T. Chan, M. Cupak, M. Dehan, C. Delvaux, K. Devriendt, G. Eneman, M. Ercken, T. Huynh-Bao, T. Ivanov, P. Matagne, C. Merckling, V. Paraschiv, S. Ramesh, E. Rosseel, L. Rynders, A. Sibaja-Hernandez, S. Suhard, Z. Tao, E. Vecchio, N. Waldron, D. Yakimets, K. De Meyer, D. Mocuta, N. Collaert, A. Thean, ECS Trans. 72(4), 31 (2016). https://​doi.​org/​10.​1149/​07204.​0031ecstCrossRef
25.
Zurück zum Zitat A. Veloso, Z. Tao, W. Li, E. Altamirano-Sanchez, J.J. Versluijs, S. Brus, P. Matagne, N. Waldron, J. Ryckaert, D. Mocuta, N. Collaert, T. Huynh-Bao, E. Rosseel, V. Paraschiv, K. Devriendt, E. Vecchio, C. Delvaux, B.T. Chan, M. Ercken, in 2016 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) (IEEE, 2016), pp. 1–3. https://doi.org/10.1109/S3S.2016.7804409 A. Veloso, Z. Tao, W. Li, E. Altamirano-Sanchez, J.J. Versluijs, S. Brus, P. Matagne, N. Waldron, J. Ryckaert, D. Mocuta, N. Collaert, T. Huynh-Bao, E. Rosseel, V. Paraschiv, K. Devriendt, E. Vecchio, C. Delvaux, B.T. Chan, M. Ercken, in 2016 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) (IEEE, 2016), pp. 1–3. https://​doi.​org/​10.​1109/​S3S.​2016.​7804409
26.
Zurück zum Zitat IRDS. International Roadmap for Devices and Systems: 2018 Update; More Moore (2018) IRDS. International Roadmap for Devices and Systems: 2018 Update; More Moore (2018)
56.
Zurück zum Zitat S. Hertenberger, S. Funk, K. Vizbaras, A. Yadav, D. Rudolph, J. Becker, S. Bolte, M. Döblinger, M. Bichler, G. Scarpa, P. Lugli, I. Zardo, J.J. Finley, M.C. Amann, G. Abstreiter, G. Koblmüller, Appl. Phys. Lett. 101(4), 043116 (2012). https://doi.org/10.1063/1.4738769CrossRef S. Hertenberger, S. Funk, K. Vizbaras, A. Yadav, D. Rudolph, J. Becker, S. Bolte, M. Döblinger, M. Bichler, G. Scarpa, P. Lugli, I. Zardo, J.J. Finley, M.C. Amann, G. Abstreiter, G. Koblmüller, Appl. Phys. Lett. 101(4), 043116 (2012). https://​doi.​org/​10.​1063/​1.​4738769CrossRef
64.
Zurück zum Zitat E. Russo-Averchi, J. Vukajlovic Plestina, G. Tütüncüoglu, F. Matteini, A. Dalmau-Mallorquí, M. De La Mata, D. Rüffer, H.A. Potts, J. Arbiol, S. Conesa-Boj, A. Fontcuberta I. Morral, Nano Lett. 15(5), 2869 (2015). https://doi.org/10.1021/nl504437v E. Russo-Averchi, J. Vukajlovic Plestina, G. Tütüncüoglu, F. Matteini, A. Dalmau-Mallorquí, M. De La Mata, D. Rüffer, H.A. Potts, J. Arbiol, S. Conesa-Boj, A. Fontcuberta I. Morral, Nano Lett. 15(5), 2869 (2015). https://​doi.​org/​10.​1021/​nl504437v
65.
126.
Zurück zum Zitat D.V. Shenai-Khatkhate, R.L. DiCarlo, R.A. Ware, J. Cryst. Growth 310(7), 2395 (2008). https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2007.11.196. D. V. Shenai-Khatkhate et al. reported on an update on the vapor pressure (P) equation of TMIn, i.e, \(\log P ({\rm Torr}) = 10.98-3204/T ({\rm K})\). In this study, however, the authors used the estimated partial pressure for TMIn obtained using a conventionally used old equation, i.e., \(\log P ({\rm Torr}) = 10.52-3014/T ({\rm K})\), for comparison with the previous articles D.V. Shenai-Khatkhate, R.L. DiCarlo, R.A. Ware, J. Cryst. Growth 310(7), 2395 (2008). https://​doi.​org/​10.​1016/​j.​jcrysgro.​2007.​11.​196. D. V. Shenai-Khatkhate et al. reported on an update on the vapor pressure (P) equation of TMIn, i.e, \(\log P ({\rm Torr}) = 10.98-3204/T ({\rm K})\). In this study, however, the authors used the estimated partial pressure for TMIn obtained using a conventionally used old equation, i.e., \(\log P ({\rm Torr}) = 10.52-3014/T ({\rm K})\), for comparison with the previous articles
168.
Zurück zum Zitat S. Ramesh, T. Ivanov, E. Camerotto, N. Sun, J. Franco, A. Sibaja-Hernandez, R. Rooyackers, A. Alian, J. Loo, A. Veloso, A. Milenin, D. Lin, P. Favia, H. Bender, N. Collaert, A.V. Thean, K. De Meyer, Digest of Technical Papers—Symposium on VLSI Technology 2016(Sept), 1 (2016). https://doi.org/10.1109/VLSIT.2016.7573419 S. Ramesh, T. Ivanov, E. Camerotto, N. Sun, J. Franco, A. Sibaja-Hernandez, R. Rooyackers, A. Alian, J. Loo, A. Veloso, A. Milenin, D. Lin, P. Favia, H. Bender, N. Collaert, A.V. Thean, K. De Meyer, Digest of Technical Papers—Symposium on VLSI Technology 2016(Sept), 1 (2016). https://​doi.​org/​10.​1109/​VLSIT.​2016.​7573419
180.
192.
Zurück zum Zitat R. Rooyackers, A. Vandooren, A.S. Verhulst, A. Walke, K. Devriendt, S. Locorotondo, M. Demand, G. Bryce, R. Loo, A. Hikavyy, T. Vandeweyer, C. Huyghebaert, N. Collaert, A. Thean, Technical Digest—International Electron Devices Meeting, IEDM (2013), pp. 4.2.1–4.2.4. https://doi.org/10.1109/IEDM.2013.6724558 R. Rooyackers, A. Vandooren, A.S. Verhulst, A. Walke, K. Devriendt, S. Locorotondo, M. Demand, G. Bryce, R. Loo, A. Hikavyy, T. Vandeweyer, C. Huyghebaert, N. Collaert, A. Thean, Technical Digest—International Electron Devices Meeting, IEDM (2013), pp. 4.2.1–4.2.4. https://​doi.​org/​10.​1109/​IEDM.​2013.​6724558
198.
Zurück zum Zitat A. Villalon, C. Le Royer, P. Nguyen, S. Barraud, F. Glowacki, A. Revelant, L. Selmi, S. Cristoloveanu, L. Tosti, C. Vizioz, J.M. Hartmann, N. Bernier, B. Prévitali, C. Tabone, F. Allain, S. Martinie, O. Rozeau, M. Vinet, Digest of Technical Papers-Symposium on VLSI Technology 49(2010), 2013 (2014). https://doi.org/10.1109/VLSIT.2014.6894369CrossRef A. Villalon, C. Le Royer, P. Nguyen, S. Barraud, F. Glowacki, A. Revelant, L. Selmi, S. Cristoloveanu, L. Tosti, C. Vizioz, J.M. Hartmann, N. Bernier, B. Prévitali, C. Tabone, F. Allain, S. Martinie, O. Rozeau, M. Vinet, Digest of Technical Papers-Symposium on VLSI Technology 49(2010), 2013 (2014). https://​doi.​org/​10.​1109/​VLSIT.​2014.​6894369CrossRef
202.
204.
268.
Zurück zum Zitat J.E. Kruse, L. Lymperakis, S. Eftychis, A. Adikimenakis, G. Doundoulakis, K. Tsagaraki, M. Androulidaki, A. Olziersky, P. Dimitrakis, V. Ioannou-Sougleridis, P. Normand, T. Koukoula, T. Kehagias, P. Komninou, G. Konstantinidis, A. Georgakilas, J. Appl. Phys. 119(22), 224305 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4953594 J.E. Kruse, L. Lymperakis, S. Eftychis, A. Adikimenakis, G. Doundoulakis, K. Tsagaraki, M. Androulidaki, A. Olziersky, P. Dimitrakis, V. Ioannou-Sougleridis, P. Normand, T. Koukoula, T. Kehagias, P. Komninou, G. Konstantinidis, A. Georgakilas, J. Appl. Phys. 119(22), 224305 (2016). https://​doi.​org/​10.​1063/​1.​4953594
Metadaten
Titel
Nanowire Field-Effect Transistors
verfasst von
Junichi Motohisa
Shinjiro Hara
Copyright-Jahr
2021
Verlag
Springer Singapore
DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-15-9050-4_9

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.