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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 1/2018

08.02.2018

New Editor – 2018

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 1/2018

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Excerpt

Stefano Di Carlo has been a tenured associate professor at the department of Control and Computer Engineering of Politecnico di Torino (Italy) since 2014. He holds a Ph.D. (2003) and an M.S. equivalent (1999) in Computer Engineering and Information Technology from the Politecnico di Torino. Di Carlo’s research contributions include Reliability Analysis, FPGA Design, Memory Testing, Reliability analysis of NVM memories with ECC, Design for Testability, Built-In Self-Test, Fault Simulation and Automatic Test Generation. …
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Metadaten
Titel
New Editor – 2018
Publikationsdatum
08.02.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 1/2018
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-018-5711-3

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