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Erschienen in: Journal of Electronic Testing 1/2022

19.03.2022

New Editors – 2022

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 1/2022

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Excerpt

Jie Han received BSc degree in electronic engineering from Tsinghua University, Beijing, China, in 1999 and the PhD degree from the Delft University of Technology, The Netherlands, in 2004. He is currently a Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Alberta. He was a NASA INAC (Institute for Nanoelectronics and Computing) Postdoctoral Fellow in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Florida from 2004 to 2007. From 2007 to 2009, he worked as a Research Scientist at the Advanced Medical Diagnostics S.A./B.V. in Belgium. His research interests include approximate computing, stochastic computing, brain-inspired learning systems and neural networks, reliability, fault tolerance, nanoelectronic circuits and systems, and novel computational models for nanoscale and biological applications. …
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Metadaten
Titel
New Editors – 2022
Publikationsdatum
19.03.2022
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 1/2022
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-022-05992-2

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