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01.04.2013 | Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena | Ausgabe 4/2013

Semiconductors 4/2013

On the electrically detected cyclotron resonance of holes in silicon nanostructures

Zeitschrift:
Semiconductors > Ausgabe 4/2013
Autoren:
N. T. Bagraev, D. S. Gets, E. Yu. Danilovsky, L. E. Klyachkin, A. M. Malyarenko

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