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01.08.2014 | Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures | Ausgabe 8/2014

Semiconductors 8/2014

On the nature of cracks using single-crystalline silicon subjected to anodic etching as an example

Zeitschrift:
Semiconductors > Ausgabe 8/2014
Autoren:
N. N. Gerasimenko, K. B. Tynyshtykbaev, V. V. Starkov, N. A. Medetov, S. Zh. Tokmoldin, E. A. Gosteva

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Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures

Study of postgrowth processing in the fabrication of quantum-cascade lasers

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