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Erschienen in:
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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

24. Optical Characterisation of Thin Silicon

verfasst von : Michael Reuter, Sebastian J. Eisele

Erschienen in: Ultra-thin Chip Technology and Applications

Verlag: Springer New York

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Abstract

This chapter presents the optical characteristics of thin silicon. It starts with the absorption of irradiation, discusses the efficiency potential for thin solar cells and introduces the quantum efficiency. The chapter further discusses the advantages of vertical versus lateral arrangement of the pn-junction and introduces laser processing of silicon, which allows, e.g. for low temperature contactless emitter formation.

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Fußnoten
1
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Metadaten
Titel
Optical Characterisation of Thin Silicon
verfasst von
Michael Reuter
Sebastian J. Eisele
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer New York
Buch
Ultra-thin Chip Technology and Applications

Print ISBN: 978-1-4419-7275-0

Electronic ISBN: 978-1-4419-7276-7

Copyright-Jahr: 2011

DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7276-7_24

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