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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 4/2016

29.12.2015

Optical Characterization of Si-Based Ge1−x Sn x Alloys with Sn Compositions up to 12%

verfasst von: Sattar Al-Kabi, Seyed Amir Ghetmiri, Joe Margetis, Wei Du, Aboozar Mosleh, Murtadha Alher, Wei Dou, Joshua M. Grant, Greg Sun, Richard A. Soref, John Tolle, Baohua Li, Mansour Mortazavi, Hameed A. Naseem, Shui-Qing Yu

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 4/2016

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Metadaten
Titel
Optical Characterization of Si-Based Ge1−x Sn x Alloys with Sn Compositions up to 12%
verfasst von
Sattar Al-Kabi
Seyed Amir Ghetmiri
Joe Margetis
Wei Du
Aboozar Mosleh
Murtadha Alher
Wei Dou
Joshua M. Grant
Greg Sun
Richard A. Soref
John Tolle
Baohua Li
Mansour Mortazavi
Hameed A. Naseem
Shui-Qing Yu
Publikationsdatum
29.12.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 4/2016
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-015-4283-6

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