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2007 | OriginalPaper | Buchkapitel

3. Optical Properties of Electronic Materials: Fundamentals and Characterization

verfasst von : Safa Kasap, Prof., Cyril Koughia, Ph.D., Jai Singh, Prof., Harry Ruda, Prof., Stephen OʼLeary, Prof.

Erschienen in: Springer Handbook of Electronic and Photonic Materials

Verlag: Springer US

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Abstract

Light interacts with materials in a variety of ways; this chapter focuses on refraction and absorption. Refraction is characterized by a materialʼs refractive index. We discuss some of the most useful models for the frequency dependence of the refractive index, such as those due to Cauchy, Sellmeier, Gladstone–Dale, and Wemple–Di Dominico. Examples are given of the applicability of the models to actual materials. We present various mechanisms of light absorption, including absorption by free carriers, phonons, excitons and impurities. Special attention is paid to fundamental and excitonic absorption in disordered semiconductors and to absorption by rare-earth, trivalent ions due to their importance to modern photonics. We also discuss the effect of an external electric field on absorption, and the Faraday effect. Practical techniques for determining the optical parameters of thin films are outlined. Finally, we present a short technical classification of optical glasses and materials.

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Literatur
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Metadaten
Titel
Optical Properties of Electronic Materials: Fundamentals and Characterization
verfasst von
Safa Kasap, Prof.
Cyril Koughia, Ph.D.
Jai Singh, Prof.
Harry Ruda, Prof.
Stephen OʼLeary, Prof.
Copyright-Jahr
2007
Verlag
Springer US
DOI
https://doi.org/10.1007/978-0-387-29185-7_3

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