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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 6/2013

01.12.2013

Preserving Hamming Distance in Arithmetic and Logical Operations

verfasst von: Shlomi Dolev, Sergey Frenkel, Dan E. Tamir, Vladimir Sinelnikov

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 6/2013

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Abstract

This paper presents a new method for fault-tolerant computing where for a given error rate, r, the hamming distance between correct inputs and faulty inputs, as well as the hamming distance between correct results and faulty results, is preserved throughout processing; thereby enabling correction of up to r transient faults per computation cycle. The new method is compared and contrasted with current protection methods and its cost/performance is analyzed.
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Metadaten
Titel
Preserving Hamming Distance in Arithmetic and Logical Operations
verfasst von
Shlomi Dolev
Sergey Frenkel
Dan E. Tamir
Vladimir Sinelnikov
Publikationsdatum
01.12.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 6/2013
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-013-5421-9

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