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Journal of Electronics (China)
Erschienen in: Journal of Electronics (China) 2/2013

01.04.2013

Probe: Noise-and-rotation resistance of Hopfield Neural Network in imaged traffic sign recall

verfasst von: Ken Chen, Shoujian Yang, Batur Celal

Erschienen in: Journal of Electronics (China) | Ausgabe 2/2013

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Metadaten
Titel
Probe: Noise-and-rotation resistance of Hopfield Neural Network in imaged traffic sign recall
verfasst von
Ken Chen
Shoujian Yang
Batur Celal
Publikationsdatum
01.04.2013
Verlag
SP Science Press
Erschienen in
Journal of Electronics (China) / Ausgabe 2/2013
Print ISSN: 0217-9822
Elektronische ISSN: 1993-0615
DOI
https://doi.org/10.1007/s11767-013-2157-8

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