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Erschienen in: Journal of Failure Analysis and Prevention 1/2017

01.02.2017

Product News

Erschienen in: Journal of Failure Analysis and Prevention | Ausgabe 1/2017

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Bruker Corp. introduces the Tracer 5i handheld X-ray fluorescence (XRF) elemental analyzer, which is more sensitive, flexible, and field interactive than the previous model, while retaining its unique advantages and comprehensive analytical software. The instrument incorporates a more powerful tube and detector, an automated filter wheel, and a manual filter slot. It also includes selectable collimation, Bruker’s patented SharpBeam optimized geometry, pressure and temperature compensation, an internal VGA CMOS camera, an interactive touchscreen with point-and-shoot capability, and Wi-Fi and Bluetooth connectivity.

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Metadaten
Titel
Product News
Publikationsdatum
01.02.2017
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Failure Analysis and Prevention / Ausgabe 1/2017
Print ISSN: 1547-7029
Elektronische ISSN: 1864-1245
DOI
https://doi.org/10.1007/s11668-016-0228-5

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