Anzeige
Erschienen in:
1985 | OriginalPaper | Buchkapitel
Refinement of the Buckled-Dimer Model for Si(001)2×1
verfasst von : Y. S. Shu, W. S. Yang, F. Jona, P. M. Marcus
Erschienen in: The Structure of Surfaces
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Enthalten in: Professional Book Archive
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by
A refinement (YJM2) of the four-layer-distorted buckled-dimer model for Si(001)2 × l presented earlier (YJM1) is described. The YJM2 model (mean R factor Rm =0.155 at normal incidence) fits the experimental LEED intensity data better than YJM1 (R™ =0.180), and both do so significantly better than a model recently proposed by other workers (rm =0.262).