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Erschienen in:
1985 | OriginalPaper | Buchkapitel
Reflection Electron Microscopy Studies of Crystal Lattice Termination at Surfaces
verfasst von : Tung Hsu, J. M. Cowley
Erschienen in: The Structure of Surfaces
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Enthalten in: Professional Book Archive
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Reflection Electron Microscopy (REM) is applied to the imaging of stacking faults immediately beneath the surface of bulk crystals. Strong contrast is obtained on stacking fault ribbons in graphite. The contrast on Pt(lll) surfaces is also attributed to the stacking sequence change of the topmost layer of atoms.