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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

85. Reflection High-Energy Electron Diffraction

verfasst von : Yoshimi Horio

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Reflection High-Energy Electron Diffraction (RHEED) (Ichimiya and Cohen in Reflection high-energy electron diffraction, Cambridge University Press, Cambridge, 2004 [1]) is one of the powerful methods for surface structural analysis.

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Literatur
1.
Ichimiya, A., Cohen, P.I.: Reflection high-energy electron diffraction. Cambridge University Press, Cambridge, UK (2004)CrossRef
2.
Joyce, B.A., Dobson, P.J., Neave, J.H., Woodbridge, K., Zhang, J., Larsen, P.K., Bolger, B.: RHEED studies of heterojunction and quantum well formation during MBE growth—from multiple scattering to band offsets. Surf. Sci. 168, 423–438 (1986)CrossRef
3.
Horio, Y.: Zero-loss reflection high-energy electron diffraction patterns and rocking curves of the Si(111) 7 × 7 surface obtained by energy filtering. Jpn. J. Appl. Phys. 35, 3559–3564 (1996)CrossRef
4.
Horio, Y.: Structure analysis of Si(111) √3 × √3—A1 surface by energy-filtered RHEED. Surf. Rev. Lett. 4, 977–983 (1997)CrossRef
Metadaten
Titel
Reflection High-Energy Electron Diffraction
verfasst von
Yoshimi Horio
Copyright-Jahr
2018
Verlag
Springer Singapore
Buch
Compendium of Surface and Interface Analysis

Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018

DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_85

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