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01.10.2011 | Ausgabe 5/2011

Journal of Electronic Testing 5/2011

Reliability Limits of TMR Implemented in a SRAM-based FPGA: Heavy Ion Measures vs. Fault Injection Predictions

Zeitschrift:
Journal of Electronic Testing > Ausgabe 5/2011
Autoren:
Gilles Foucard, Paul Peronnard, Raoul Velazco
Wichtige Hinweise
Responsible Editor: F. Vargas

Abstract

This paper presents experimental results putting in evidence the potential weaknesses of a state-of-the-art fault tolerance strategy, the Triple Modular Redundancy (TMR), when implemented in SRAM-based FPGAs. HW/SW fault injection campaigns and accelerated radiation ground tests were performed to quantify the number of faults, Single Event Upsets (SEUs) required to obtain such critical failures.

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Literatur
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