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Erschienen in: International Journal of Computer Vision 2-3/1999

01.04.1999

Reliable and Efficient Pattern Matching Using an Affine Invariant Metric

verfasst von: Michiel Hagedoorn, Remco C. Veltkamp

Erschienen in: International Journal of Computer Vision | Ausgabe 2-3/1999

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Metadaten
Titel
Reliable and Efficient Pattern Matching Using an Affine Invariant Metric
verfasst von
Michiel Hagedoorn
Remco C. Veltkamp
Publikationsdatum
01.04.1999
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
International Journal of Computer Vision / Ausgabe 2-3/1999
Print ISSN: 0920-5691
Elektronische ISSN: 1573-1405
DOI
https://doi.org/10.1023/A:1008022116857

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