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Erschienen in:
2004 | OriginalPaper | Buchkapitel
Scanning Probe Microscopy of Ferroelectric Domains near Phase Transitions
verfasst von : M. Abplanalp, M. Zgonik, P. Günter
Erschienen in: Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Enthalten in: Professional Book Archive
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In this chapter the results of scanning probe microscopic (SPM) investigations near ferroelectric (ferroic)—paraelectric phase transitions are presented. Submicroscopic investigations of domains near the transition temperature are of fundamental importance both for the basic understanding of the phase transitions itself but also for devices operating near the transition temperatures.