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Erschienen in:
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1984 | OriginalPaper | Buchkapitel

SIMS Combined with Other Methods of Surface Analysis

verfasst von : Otto Ganschow

Erschienen in: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

Enthalten in: Professional Book Archive

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Like all methods of surface analysis, SIMS provides only fragmentary information and therefore profits by combination with complementary techniques. Comparable results can only be obtained if these additional methods are applied to the same surface simultaneously or sequentially in one UHV system.

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Metadaten
Titel
SIMS Combined with Other Methods of Surface Analysis
verfasst von
Otto Ganschow
Copyright-Jahr
1984
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Print ISBN: 978-3-642-82258-2

Electronic ISBN: 978-3-642-82256-8

Copyright-Jahr: 1984

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-82256-8_58

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