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2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

SNOM - Optische Rasternahfeldmikroskopie

verfasst von : Jürgen Bauch, Rüdiger Rosenkranz

Erschienen in: Physikalische Werkstoffdiagnostik

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Bei der optischen Rasternahfeldmikroskopie gelingt es, das in der Lichtmikroskopie geltende Abbe-Auflösungslimit durch eine spezielle Messanordnung zu unterschreiten. Das Licht wird durch eine hohle Messspitze geleitet, welche am Ende eine mikroskopische Apertur besitzt. Die Probe wird wenige Nanometer entfernt von der Austrittsstelle des Lichts positioniert. Das reflektierte oder transmittierte Licht gelangt in einen hochempfindlichen Detektor, dessen Ausgangssignal zur Bilddarstellung benutzt wird.

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Metadaten
Titel
SNOM - Optische Rasternahfeldmikroskopie
verfasst von
Jürgen Bauch
Rüdiger Rosenkranz
Copyright-Jahr
2017
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_2

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.