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Erschienen in:
2015 | OriginalPaper | Buchkapitel
8. Speckle Metrology
verfasst von : Ulf Schnars, Claas Falldorf, John Watson, Werner Jüptner
Erschienen in: Digital Holography and Wavefront Sensing
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
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Abstract
Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) is a method, similar HI, to measure optical path changes caused by deformation of opaque bodies or refractive index variations within transparent media (Helmers et al. in Proceedings of 4th international workshop on automatic processing of fringe patterns. Elsevier, New York, pp 673–679, 2001,[82], Lokberg, Phys Techn 11:16-22, 1980, [147]).