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01.12.2015 | Ausgabe 5-6/2015

Journal of Electronic Testing 5-6/2015

Speeding Up Logic Locking via Fault Emulation and Dynamic Multiple Fault Injection

Zeitschrift:
Journal of Electronic Testing > Ausgabe 5-6/2015
Autoren:
Sezer Gören, Cemil Cem Gürsoy, Abdullah Yildiz
Wichtige Hinweise
Responsible Editor: M. Tehranipoor
This project is supported by the Scientific and Technological Research Council of Turkey (TUBITAK), under contract EEEAG/114E022.
An erratum to this article can be found at http://​dx.​doi.​org/​10.​1007/​s10836-015-5558-9.

Abstract

Today’s Integrated Circuit (IC) industry is suffering from piracy, overbuild ICs, and hardware Trojans. One way to protect ICs is logic locking. Logic locking is done by inserting extra logic to the original design’s netlist such that correct outputs are produced only when the correct key is applied. However, the determination of locations to insert logic is a computationally expensive process. In this paper, we propose a fault emulation technique to speed up the process of determination of fault locations. Our fault emulation technique enables dynamic multiple fault injection as well as real-time fault impact computation in a single FPGA configuration. The effectiveness of the proposed emulation technique is evaluated with ISCAS’89 sequential benchmark circuits and results are presented.

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