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2019 | Buch

Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie

Techniken, Stand, Anwendungen, Perspektiven

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Über dieses Buch

Goerg Michler fasst das große Gebiet der Elektronenmikroskopie zusammen und stellt die verschiedenen Techniken übersichtlich dar. Der Autor beschreibt anschaulich die Einsatzmöglichkeiten der Mikroskopie und die Anforderungen an eine Probenpräparation. Mit Bildbeispielen aus der Praxis illustriert er die Darstellungen.

Der Autor:

Prof. Dr. rer. nat. habil. Goerg H. Michler war Leiter des Instituts für Werkstoffwissenschaften an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, ist Ehrenvorsitzender des Instituts für Polymerwerkstoffe e.V. und Vorsitzender der Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie.

Inhaltsverzeichnis

Frontmatter
Kapitel 1. Kurze Entwicklungsgeschichte der Mikroskopie
Zusammenfassung
Historischer Überblick zur Entwicklung der Lichtmikroskopie und die frühen Jahre der Elektronenmikroskopie; Abbésche Formel zur Auflösung von Mikroskopen.
Goerg H. Michler
Kapitel 2. Richtungen der Elektronenmikroskopie
Zusammenfassung
Übersicht zu den Hauptrichtungen der Elektronenmikroskopie und zu den Anforderungen an die zu untersuchenden Proben. Darstellung der Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) einschließlich der Höchstspannungs-TEM, Höchstauflösungs-TEM und Analytischen TEM, der Techniken der Raster-Elektronenmikroskopie (REM), der Emissions-Elektronenmikroskopie und der Rastersondenmikroskopie, jeweils mit Beschreibung der Kontrastentstehung in den Aufnahmen und illustriert durch charakteristische Bildbeispiele. Ein Hinweis auf die in-situ Mikroskopie schließt das Kapitel ab.
Goerg H. Michler
Kapitel 3. Probenpräparationen
Zusammenfassung
Beginnend mit einem Überblick zu den Hauptlinien der Präparation kompakter Materialien für die verschiedenen Mikroskopieverfahren werden die Ätztechniken einschließlich der Focused-Ion-Beam Technik und die (Kryo-)Ultramikrotomie mit einigen Möglichkeiten zur räumlichen Strukturanalyse (3D-Analyse) umrissen. Für eine oftmals notwendige Verbesserung des Kontrastes der interessierenden Strukturen werden chemische und physikalische Probenbehandlungen genannt.
Goerg H. Michler
Kapitel 4. Bildverarbeitung und Bildsimulation
Zusammenfassung
Bildverarbeitung und Bildanalyse dienen einer verbesserten Darstellung von Strukturen und deren quantitativen Auswertung einschließlich der räumlichen Strukturanalyse. Methoden der Bildsimulation sind insbesondere zur Interpretation von Höchstauflösungsaufnahmen erforderlich.
Goerg H. Michler
Kapitel 5. Ausblick
Zusammenfassung
Das abschließende Kapitel weist auf zukünftige Anforderungen bei der Präparation und der mikroskopischen Untersuchung hin.
Goerg H. Michler
Backmatter
Metadaten
Titel
Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie
verfasst von
Prof. Dr. Goerg H. Michler
Copyright-Jahr
2019
Electronic ISBN
978-3-658-26688-2
Print ISBN
978-3-658-26687-5
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-658-26688-2