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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 7/2019

21.02.2019

Structural and dielectric properties of (BaxMg1−x)(Ti0.95Sn0.05)O3 (x = 0.025, 0.05, 0.075 and 0.1) solid solutions

verfasst von: Jasdeep Singh, Shalini Bahel

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 7/2019

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Abstract

The structural and dielectric properties of novel (BaxMg1−x)(Ti0.95Sn0.05)O3 (x = 0.025, 0.05, 0.075, 0.1) solid solutions synthesized by conventional mixed oxide route were investigated. X-ray diffraction, scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-ray (EDX) revealed the formation of multiphase system with MgTiO3 as main phase. The dielectric properties of these materials were strongly dependent upon amount of x concentration and it was observed that with an increase in the x concentration from 0.025 to 0.1, the relative permittivity (ɛr) increased from 18.0 to 22.72, losses (tan δ) increased from 0.002 to 0.025 and temperature coefficient of resonant frequency (τf) shifted from − 35.5 ppm/°C to + 2.8 ppm/°C. A reasonably good combination of dielectric properties was observed for (BaxMg1−x)(Ti0.95Sn0.05)O3 with x = 0.05, having ɛr of 19.7, tan δ of 0.008 and τf of − 13.1 ppm/°C at a sintering temperature of 1250 °C. Owing to low-to-medium relative permittivity, low losses and small negative value of temperature coefficient of resonant frequency, the present materials could be used as substrate for various communication devices including dielectric resonator antennas, filters etc.

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Metadaten
Titel
Structural and dielectric properties of (BaxMg1−x)(Ti0.95Sn0.05)O3 (x = 0.025, 0.05, 0.075 and 0.1) solid solutions
verfasst von
Jasdeep Singh
Shalini Bahel
Publikationsdatum
21.02.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 7/2019
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-019-00955-4

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