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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 7/2019

27.02.2019

Structural and magnetic study of Sm doped NiFe2O4 nanoparticles

verfasst von: M. Yehia, A. Hashhash

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 7/2019

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Abstract

NiFe2−xSmxO4 (x = 0.0, 0.01, 0.025, 0.05, 0.075, 0.1) nanoferrites samples were prepared by sol–gel method. The structural properties of the samples were studied by X-ray powder diffraction, where the formation of a cubic spinel phase was confirmed. The lattice parameter and the particle size were determined by applying Rietveld refinement. A slight change in the lattice parameter was observed for Sm doped nanosamples. Whereas, the particle sizes were found to decrease with increasing Sm concentration (x) and have the highest value (42 nm) for pure NiFe2O4 nanoparticles. The magnetic properties were characterized using Mössbauer effect (ME) spectroscopy and vibrating sample magnetometer (VSM). ME spectroscopy was used to study the distribution of cations in tetrahedral (A) and octahedral [B] sites of the nanoparticles and the degrees of inversion values were obtained. The saturation magnetization, coercivity and remanent magnetization were determined using VSM measurements. These magnetic parameters vary with Sm substitution and found to be mainly affected by the change in the cations distribution and particle sizes.

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Metadaten
Titel
Structural and magnetic study of Sm doped NiFe2O4 nanoparticles
verfasst von
M. Yehia
A. Hashhash
Publikationsdatum
27.02.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 7/2019
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-019-00988-9

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