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11.12.2015 | Ausgabe 4/2016

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 4/2016

Studies on the simplified SILAR deposited magnetite (Fe3O4) thin films annealed at different temperatures

Zeitschrift:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics > Ausgabe 4/2016
Autoren:
S. Sheik Fareed, N. Mythili, H. Mohamed Mohaideen, K. Saravanakumar, R. Chandramohan, G. Ravi

Abstract

Nanocrystalline magnetite thin films were deposited on glass substrates using simplified SILAR method. Variations in structural, optical and magnetic properties were studied with respect to annealing temperature. XRD results reveals the nanocrystalline film formation of cubic structured magnetite (Fe3O4), whose crystallite size increases with annealing. SEM images shows the spherical morphological agglomeration which varies with annealing. Transmission in UV–Vis radiation increases with annealing of films and maximum % transmission was observed for near IR range. VSM result reveals the magnetically soft nature of the deposited films with increasing Ms, Hc values on annealing.

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