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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 8/2016

15.04.2016

Studies on the structural, morphological, electrical and optical properties of (CdO) x (ZnO)1−x thin films deposited by spray pyrolysis method

verfasst von: S. Raja, P. V. Bhuvaneswari, R. Ramesh Babu, V. Gokulakrishnan, K. Ramamurthi

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 8/2016

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Abstract

Thin films of (CdO) x (ZnO)1−x were deposited at 300 °C on glass substrates for various values of x (x = 0.0, 0.2, 0.4, 0.5, 0.6, 0.8 and 1.0) by spray pyrolysis method. As deposited films were annealed at 450 °C in the air atmosphere and characterized to study the effect of annealing on the structural, morphological, electrical and optical properties of (CdO) x (ZnO)1−x films. X-ray diffraction study shows that the prepared (CdO) x (ZnO)1−x films are polycrystalline in nature. ZnO film (for x = 0) belongs to the hexagonal wurtzite system and CdO film (for x = 1) belongs to the cubic system and mixed films were formed for x = 0.2, 0.4 and 0.5. The surface morphology of the film shows densely packed grains for ZnO (x = 0) and the surface nature of the film varies for various values of x. Electrical studies show the film deposited for x = 0.8 acquires lowest resistivity of 8.85 × 10−4 Ω cm and highest mobility of 33 cm2/Vs. Optical transmittance varies from 86 to 47 % and the band gap energy varies from 3.25 to 2.26 eV with various levels of x.

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Metadaten
Titel
Studies on the structural, morphological, electrical and optical properties of (CdO) x (ZnO)1−x thin films deposited by spray pyrolysis method
verfasst von
S. Raja
P. V. Bhuvaneswari
R. Ramesh Babu
V. Gokulakrishnan
K. Ramamurthi
Publikationsdatum
15.04.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 8/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-4812-y

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