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Journal of Electronic Materials

Study of Stark Effect in n-doped 1.55 μm InN0.92yP1−1.92yBiy/InP MQWs

  • 17.05.2018
Erschienen in:
Verfasst von
C. Bilel
K. Chakir
A. Rebey
Z. A. Alrowaili
Erschienen in
Journal of Electronic Materials | Ausgabe 8/2018

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Titel
Study of Stark Effect in n-doped 1.55 μm InN0.92yP1−1.92yBiy/InP MQWs
Verfasst von
C. Bilel
K. Chakir
A. Rebey
Z. A. Alrowaili
Publikationsdatum
17.05.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 8/2018
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-018-6368-5

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