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Journal of Electronic Materials

Study of Te Inclusion and Related Point Defects in THM-Growth CdMnTe Crystal

  • 23.02.2018
  • Topical Collection: 18th International Conference on II-VI Compounds
Erschienen in:
Verfasst von
Yifei Mao
Jijun Zhang
Jiahua Min
Xiaoyan Liang
Jian Huang
Ke Tang
Liwen Ling
Ming Li
Ying Zhang
Linjun Wang
Erschienen in
Journal of Electronic Materials | Ausgabe 8/2018

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Titel
Study of Te Inclusion and Related Point Defects in THM-Growth CdMnTe Crystal
Verfasst von
Yifei Mao
Jijun Zhang
Jiahua Min
Xiaoyan Liang
Jian Huang
Ke Tang
Liwen Ling
Ming Li
Ying Zhang
Linjun Wang
Publikationsdatum
23.02.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 8/2018
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-018-6117-9

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