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2007 | OriginalPaper | Buchkapitel

Study of the Junction Depth Effect on Ballistic Current Using the Subband Decomposition Method

verfasst von : M. Ali. Pourghaderi, Wim Magnus, Bart Sorée, Marc Meuris, Marc Heyns, Kristin De Meyer

Erschienen in: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007

Verlag: Springer Vienna

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A robust algorithm to get the chemical potential of the particle reservoirs for the self consistent full 2D Schrödinger-Poisson solver is proposed. Using this algorithm we study the effect of junction depth on ballistic current. Simulation results show that shallow junctions come with much better on to off current ratio while it keeps the on-state transconductance at the same level as the deeper junction device.

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Metadaten
Titel
Study of the Junction Depth Effect on Ballistic Current Using the Subband Decomposition Method
verfasst von
M. Ali. Pourghaderi
Wim Magnus
Bart Sorée
Marc Meuris
Marc Heyns
Kristin De Meyer
Copyright-Jahr
2007
Verlag
Springer Vienna
Buch
Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007

Print ISBN: 978-3-211-72860-4

Electronic ISBN: 978-3-211-72861-1

Copyright-Jahr: 2007

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-211-72861-1_49