Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards MyNewsletter Firmensuche
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
Sustainability in Automotive

Gesamtlebenszyklus wird immer wichtiger

In der Digitalkonferenz am 5. Dezember 2024 geht es um die wachsende Bedeutung der Kreislaufwirtschaft in der Automobilindustrie und wie nachhaltige Werkstoffe sowie wiederverwendbare Komponenten dazu beitragen können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Erschienen in:
Kapitel lesen Erstes Kapitel lesen

2007 | OriginalPaper | Buchkapitel

Surface Roughness Scattering in Ultrathin-Body SOI MOSFETs

verfasst von : Seonghoon Jin, Massimo V. Fischetti, Ting-wei Tang

Erschienen in: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007

Verlag: Springer Vienna

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

A rigorous surface roughness scattering model for ultrathin-body SOI MOSFETs is presented, which extends Ando’s model for bulk MOSFETs. The matrix element of the scattering potential includes a generalized Prange-Nee term and all the Coulomb interaction terms. Using this model, we study the effects of the silicon body thickness, effective field, and dielectric constant of the insulator on the roughness-limited low-field electron mobility in ultrathin-body SOI MOSFETs.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Vorheriges Kapitel Comparison of Monte Carlo Transport Models for Nanometer-Size MOSFETs
Nächstes Kapitel Pearson Effective Potential vs. Multi-Subband Monte-Carlo Simulation for Electron Transport in DG nMOSFETs
Metadaten
Titel
Surface Roughness Scattering in Ultrathin-Body SOI MOSFETs
verfasst von
Seonghoon Jin
Massimo V. Fischetti
Ting-wei Tang
Copyright-Jahr
2007
Verlag
Springer Vienna
Buch
Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007

Print ISBN: 978-3-211-72860-4

Electronic ISBN: 978-3-211-72861-1

Copyright-Jahr: 2007

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-211-72861-1_15