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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 4/2019

25.01.2019 | Topical Collection: International Conference on Thermoelectrics 2018

Synergistic Influence of Cu Intercalation on Electronic and Thermal Properties of n-Type CuxBi2Te2.7Se0.3 Polycrystalline Alloys

verfasst von: Hyun-jun Cho, Weon Ho Shin, Sung-sil Choo, Ji-il Kim, Joonyeon Yoo, Sang-il Kim

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 4/2019

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Metadaten
Titel
Synergistic Influence of Cu Intercalation on Electronic and Thermal Properties of n-Type CuxBi2Te2.7Se0.3 Polycrystalline Alloys
verfasst von
Hyun-jun Cho
Weon Ho Shin
Sung-sil Choo
Ji-il Kim
Joonyeon Yoo
Sang-il Kim
Publikationsdatum
25.01.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 4/2019
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-019-06973-6

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