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Measurement Techniques
Erschienen in: Measurement Techniques 9/2016

01.12.2016

Test Code Correction of Errors in the Information Storage Devices of Measurement Systems

verfasst von: A. A. Pavlov, A. A. Burmistrov, A. N. Tsar’kov, D. A. Korsunskii, D. E. Sorokin, S. S. Neustroev, I. V. Robert

Erschienen in: Measurement Techniques | Ausgabe 9/2016

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Abstract

A method of test-code correction of RAM errors is proposed. A linear code is used to detect new errors while the identification of hidden errors and the determination of the configuration (erroneous bits) of a multiple error and its correction are performed on the basis of the results of an analysis of a response reaction following a test action.
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A. A. Pavlov and A. V. Shandrikov, Patent No. 211492 RF, "Fault-tolerant RAM," Izobret. Polezn. Modeli (2003).
Metadaten
Titel
Test Code Correction of Errors in the Information Storage Devices of Measurement Systems
verfasst von
A. A. Pavlov
A. A. Burmistrov
A. N. Tsar’kov
D. A. Korsunskii
D. E. Sorokin
S. S. Neustroev
I. V. Robert
Publikationsdatum
01.12.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Measurement Techniques / Ausgabe 9/2016
Print ISSN: 0543-1972
Elektronische ISSN: 1573-8906
DOI
https://doi.org/10.1007/s11018-016-1068-0

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