Skip to main content

2014 | OriginalPaper | Buchkapitel

7. Test Setups and Results

verfasst von : Hector Solar Ruiz, Roc Berenguer Pérez

Erschienen in: Linear CMOS RF Power Amplifiers

Verlag: Springer US

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

This chapter presents and discusses the measurements that are required to characterize PAs and power inductors. The setups required to perform the tests are also described, along with several recommendations for improving the accuracy of integrated circuit measurements.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
Zurück zum Zitat Aguilera J, Berenguer R (2003) Design and test of integrated inductors for RF applications. Kluwer Academic Publishers, The Netherlands Aguilera J, Berenguer R (2003) Design and test of integrated inductors for RF applications. Kluwer Academic Publishers, The Netherlands
2.
Zurück zum Zitat Wartenberg S (2003) RF coplanar probe basics. Microwave J 46(3):20–38 Wartenberg S (2003) RF coplanar probe basics. Microwave J 46(3):20–38
3.
Zurück zum Zitat Kolding TE (2000) RF on-wafer device measuring techniques. Aalborg University Aalborg, Denmark Kolding TE (2000) RF on-wafer device measuring techniques. Aalborg University Aalborg, Denmark
4.
Zurück zum Zitat IEEE Std 802.11a-1999. Part 11: Wireless LAN Medium Access Control (MAC) and Physical Layer (PHY) Specifications-High-Speed Physical Layer in the 5 GHz Band, IEEE, 2000. http://standards.ieee.org. Accessed 1 Apr 2013 IEEE Std 802.11a-1999. Part 11: Wireless LAN Medium Access Control (MAC) and Physical Layer (PHY) Specifications-High-Speed Physical Layer in the 5 GHz Band, IEEE, 2000. http://​standards.​ieee.​org. Accessed 1 Apr 2013
5.
Zurück zum Zitat Sowlati T, Leenaerts DMW (2003) A 2.4– GHz 0.18 mm CMOS self-biased cascode power amplifier. IEEE J Solid-State Circuits 38(8):1318–1324 Sowlati T, Leenaerts DMW (2003) A 2.4– GHz 0.18 mm CMOS self-biased cascode power amplifier. IEEE J Solid-State Circuits 38(8):1318–1324
6.
Zurück zum Zitat Vathulya VR, Sowlati T, Leenaerts D (2001) Class 1 bluetooth power amplifier with 24 dBm output power and 48 % PAE at 2.4 GHz in 0.25 mm CMOS. In: Proceedings of European Solid-State Circuits Conference (ESSCIRC 2001) Austria, pp 57–60 Vathulya VR, Sowlati T, Leenaerts D (2001) Class 1 bluetooth power amplifier with 24 dBm output power and 48 % PAE at 2.4 GHz in 0.25 mm CMOS. In: Proceedings of European Solid-State Circuits Conference (ESSCIRC 2001) Austria, pp 57–60
Metadaten
Titel
Test Setups and Results
verfasst von
Hector Solar Ruiz
Roc Berenguer Pérez
Copyright-Jahr
2014
Verlag
Springer US
DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-8657-2_7

Neuer Inhalt