Erschienen in:

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Testen am SiL: Kopplung von HiL-Testautomatisierung und SiL-Umgebung

verfasst von : Dr. Thomas Liebezeit, Jörg Bender, Roland Serway, Dr. Lukasz Stasiak

Erschienen in: VPC – Simulation und Test 2016

Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden

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Zusammenfassung

Die Entwicklung von Steuergerätefunktionen wird aktuell vermehrt an virtuellen Prototypen vorgenommen. Dabei kommen die Konzepte Model-in-the-Loop (MiL) und bei Seriensoftware vor allem Software-in-the-Loop (SiL) zum Einsatz. Beide ergänzen die klassische Entwicklung am Hardware-in-the-Loop (HiL)-Simulator und im Fahrzeug.

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Titel: Testen am SiL: Kopplung von HiL-Testautomatisierung und SiL-Umgebung
verfasst von: Dr. Thomas Liebezeit
Jörg Bender
Roland Serway
Dr. Lukasz Stasiak
Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden
Buch: VPC – Simulation und Test 2016
Print ISBN: 978-3-658-16753-0

Electronic ISBN: 978-3-658-16754-7

Copyright-Jahr: 2017
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-658-16754-7_13