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1989 | OriginalPaper | Buchkapitel

Testverfahren für integrierte Schaltungen

verfasst von : Prof. Dr.-Ing. Hans-Ulrich Post

Erschienen in: Entwurf und Technologie hochintegrierter Schaltungen

Verlag: Vieweg+Teubner Verlag

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Mit der wachsenden Systemkomplexität steigt auch der Testaufwand der hochintegrierten Schaltungen. Um zu vermeiden, daß die Testzeit zum wesentlichen Kostenfaktor einer integrierten Schaltung wird, muß schon beim Schaltungsentwurf die spätere Testbarkeit einbezogen werden. Zur Verbesserung der Testbarkeit sind verschiedene Verfahren [Micz86] [McCI86] entwickelt worden, von denen die wichtigsten vorgestellt werden.

Metadaten
Titel
Testverfahren für integrierte Schaltungen
verfasst von
Prof. Dr.-Ing. Hans-Ulrich Post
Copyright-Jahr
1989
Verlag
Vieweg+Teubner Verlag
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-322-84815-4_11

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.