1989 | OriginalPaper | Buchkapitel
Testverfahren für integrierte Schaltungen
verfasst von : Prof. Dr.-Ing. Hans-Ulrich Post
Erschienen in: Entwurf und Technologie hochintegrierter Schaltungen
Verlag: Vieweg+Teubner Verlag
Enthalten in: Professional Book Archive
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Mit der wachsenden Systemkomplexität steigt auch der Testaufwand der hochintegrierten Schaltungen. Um zu vermeiden, daß die Testzeit zum wesentlichen Kostenfaktor einer integrierten Schaltung wird, muß schon beim Schaltungsentwurf die spätere Testbarkeit einbezogen werden. Zur Verbesserung der Testbarkeit sind verschiedene Verfahren [Micz86] [McCI86] entwickelt worden, von denen die wichtigsten vorgestellt werden.