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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 15/2019

01.07.2019

The effects of Ca/Si ratio and B2O3 content on the dielectric properties of the CaO–B2O3–SiO2 glass–ceramics

verfasst von: Yao Fu, Pengzhen Li, Huajie Tao, Liming Zhang, Miao Xin, Yi Chang, Yunsheng Xia, Hongqing Zhou

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 15/2019

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Abstract

CaO–B2O3–SiO2 (CBS) glass–ceramics were used as the main research object in this study. Based on the predecessors’ work, we optimized the ternary components of glass–ceramics to observe its effects on the structure, sintering performance and dielectric properties of glass–ceramics. When the content of B2O3 was 15.5 mol%, the Ca/Si ratio was 0.61–0.62, the glass–ceramics were transparent after water quenching, and it could achieve sintering densification under 850 °C. When the Ca/Si ratio was < 0.61 and > 0.62, the state of glass–ceramics was changed from transparent to milk-whited. As for sintering, when the sintering temperature was above 900 °C, they could achieve sintering densification. On the basis of it, we fixed the Ca/Si ratio of 0.61, and adjusted the content of B2O3. We found that with the increasing of the B2O3 content, the transparency of glass–ceramics was worse and worse, and when the samples obtained the highest density, the sintering temperature were elevated from 820 to 920 °C. According to the XRD analysis, with the B2O3 content added, the CaB2O4 crystal phases in the glass–ceramics was increased, so the permittivity of the glass–ceramics was increased. When the Ca/Si ratio was 0.61 and the B2O3 content was 15.5 mol%, the sintered density of CBS glass–ceramics was 2.42 g/cm3 at 850 °C, the permittivity and dielectric loss was εr = 5.88, tanδ = 2.8 × 10−3 at 10 kHz.

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Metadaten
Titel
The effects of Ca/Si ratio and B2O3 content on the dielectric properties of the CaO–B2O3–SiO2 glass–ceramics
verfasst von
Yao Fu
Pengzhen Li
Huajie Tao
Liming Zhang
Miao Xin
Yi Chang
Yunsheng Xia
Hongqing Zhou
Publikationsdatum
01.07.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 15/2019
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-019-01770-7

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