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Erschienen in:
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2016 | OriginalPaper | Buchkapitel

The Improvement of March C+ Algorithm for Embedded Memory Test

verfasst von : Yongwen Wang, Qianbing Zheng, Yin Yuan

Erschienen in: Computer Engineering and Technology

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Abstract

March C+ is commonly used as a memory test algorithm. The basic principle is to use finite state machines to read and write all the addresses one by one. This paper analysis the sensitivity conditions of several fault types not covered by the March C+ algorithm, and derived a new 22 N algorithm, March Y, which increase the fault coverage of WDF, CFdsxwx and CFwd. March Y has the same symmetry as the March C+ algorithm, and achieves the coverage of all of the single unit fault types and coupling faults.

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Literatur
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Metadaten
Titel
The Improvement of March C+ Algorithm for Embedded Memory Test
verfasst von
Yongwen Wang
Qianbing Zheng
Yin Yuan
Copyright-Jahr
2016
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Computer Engineering and Technology

Print ISBN: 978-3-662-49282-6

Electronic ISBN: 978-3-662-49283-3

Copyright-Jahr: 2016

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-49283-3_4

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    Bildnachweise