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Semiconductors
Erschienen in: Semiconductors 1/2004

01.01.2004 | Semiconductor Structures, Interfaces, and Surfaces

The investigation of structural perfection of CdxHg1−x Te/CdZnTe epitaxial layers by the Raman scattering method

verfasst von: A. I. Belogorokhov, I. A. Denisov, N. A. Smirnova, L. I. Belogorokhova

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 1/2004

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Metadaten
Titel
The investigation of structural perfection of CdxHg1−x Te/CdZnTe epitaxial layers by the Raman scattering method
verfasst von
A. I. Belogorokhov
I. A. Denisov
N. A. Smirnova
L. I. Belogorokhova
Publikationsdatum
01.01.2004
Verlag
Nauka/Interperiodica
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 1/2004
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/1.1641138

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