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2012 | OriginalPaper | Buchkapitel

The Research of Transparent Material Thickness Detection System Based on CCD

verfasst von : Zhang Ning, Qiao Yang, Xu Xiping, Li Hongwei

Erschienen in: Recent Advances in Computer Science and Information Engineering

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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This paper proposes a transparent material thickness detecting system based on CCD sensor, in order to achieve non-contact on-line detection of transparent material thickness parameter. The system utilizes the principle that the displace error is different between the upper and lower surface of the transparent medium, which is simple in structure, high precision in measurement, and more convenient than the measuring solutions before. This design can solve the thickness and size detection problems of optical glass, optical crystal and optical transparent Polymer Material (or optical plastics).The measurement range is 1-10mm, and measuring accuracy is ±0.01mm.

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Metadaten
Titel
The Research of Transparent Material Thickness Detection System Based on CCD
verfasst von
Zhang Ning
Qiao Yang
Xu Xiping
Li Hongwei
Copyright-Jahr
2012
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-25778-0_51

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