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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 3/2016

27.11.2015

The structural and magnetic properties of CoAl x Fe2−x O4/SiO2 nanocomposite films by sol–gel spin-coating method

verfasst von: Ji Li, Shanshan Li, Li Wang, Shichong Xu, Mei Liu, Haibo Li

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 3/2016

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Abstract

CoAl x Fe2−x O4/SiO2 (0 ≤ x ≤ 1.0) nanocomposite films were synthesized on Si (100) substrates by sol–gel spin-coating method. The effects of Al3+ content and annealing temperature on the structure and magnetic properties of the samples were investigated by X-ray diffraction, atomic force microscopy, field emission scanning electron microscopy, and vibrating sample magnetometer. The results showed CoAl x Fe2−x O4 in the films could be crystallized with a single phase spinel structure after being annealed. When the Al3+ contents x increased from 0 to 1.0, the lattice constants of CoAl x Fe2−x O4 nanoparticles in the films decreased from 0.8370 to 0.8251 nm, the average crystallite sizes decreased from 37 to 25 nm, and the in-plane and out-of-plane coercivity of the films decreased from 258 and 315 kA/m to 46 and 63 kA/m, respectively. As the annealing temperatures rose from 800 to 1150 °C, the lattice constants of CoAl0.2Fe1.8O4 nanoparticles in the films decreased from 0.8369 to 0.8352 nm, while the average crystallite sizes increased from 7 to 63 nm. And the CoAl0.2Fe1.8O4 nanoparticles in the films had obvious (111) preferred orientation at annealing temperature of 1150 °C. The in-plane and out-of-plane coercivity of CoAl0.2Fe1.8O4/SiO2 nanocomposite film annealed at 1100 °C showed the maximum values of 198 and 259 kA/m, respectively. The critical sizes of single-domain and superparamagnetism for CoAl0.2Fe1.8O4 nanoparticles in the films at room temperature were also estimated.

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Metadaten
Titel
The structural and magnetic properties of CoAl x Fe2−x O4/SiO2 nanocomposite films by sol–gel spin-coating method
verfasst von
Ji Li
Shanshan Li
Li Wang
Shichong Xu
Mei Liu
Haibo Li
Publikationsdatum
27.11.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 3/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-015-4134-5

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