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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 6/2018

30.11.2017 | Topical Collection: International Conference on Thermoelectrics 2017

Thermoelectric Properties of Nanograined Si-Ge-Au Thin Films Grown by Molecular Beam Deposition

verfasst von: Shunsuke Nishino, Satoshi Ekino, Manabu Inukai, Muthusamy Omprakash, Masahiro Adachi, Makoto Kiyama, Yoshiyuki Yamamoto, Tsunehiro Takeuchi

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 6/2018

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Metadaten
Titel
Thermoelectric Properties of Nanograined Si-Ge-Au Thin Films Grown by Molecular Beam Deposition
verfasst von
Shunsuke Nishino
Satoshi Ekino
Manabu Inukai
Muthusamy Omprakash
Masahiro Adachi
Makoto Kiyama
Yoshiyuki Yamamoto
Tsunehiro Takeuchi
Publikationsdatum
30.11.2017
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 6/2018
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-017-5981-z

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