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Erschienen in: Nano Research 7/2019

11.05.2019 | Research Article

Thickness determination of MoS2, MoSe2, WS2 and WSe2 on transparent stamps used for deterministic transfer of 2D materials

verfasst von: Najme S. Taghavi, Patricia Gant, Peng Huang, Iris Niehues, Robert Schmidt, Steffen Michaelis de Vasconcellos, Rudolf Bratschitsch, Mar García-Hernández, Riccardo Frisenda, Andres Castellanos-Gomez

Erschienen in: Nano Research | Ausgabe 7/2019

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Metadaten
Titel
Thickness determination of MoS2, MoSe2, WS2 and WSe2 on transparent stamps used for deterministic transfer of 2D materials
verfasst von
Najme S. Taghavi
Patricia Gant
Peng Huang
Iris Niehues
Robert Schmidt
Steffen Michaelis de Vasconcellos
Rudolf Bratschitsch
Mar García-Hernández
Riccardo Frisenda
Andres Castellanos-Gomez
Publikationsdatum
11.05.2019
Verlag
Tsinghua University Press
Erschienen in
Nano Research / Ausgabe 7/2019
Print ISSN: 1998-0124
Elektronische ISSN: 1998-0000
DOI
https://doi.org/10.1007/s12274-019-2424-6

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