nach oben

Erschienen in:

2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

120. Time-Resolved Scanning Tunneling Microscopy

verfasst von : Hidemi Shigekawa

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config

KI-gestützte Suche

Aus

Abstract

Since the invention of scanning tunneling microscopy (STM) in 1982, the addition of high time resolution to STM has been the most challenging issue, and various time-resolved STM (TR-STM) methods have been considered and developed (Terada et al. in J Phys Condens Matter 22:264008–264015, 2010, Loth et al. in Science 329:1628–1630, 2010 [1, 2]).

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 102.000 Bücher
über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Finance + Banking
Management + Führung
Marketing + Vertrieb
Maschinenbau + Werkstoffe
Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 67.000 Bücher
über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Maschinenbau + Werkstoffe

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Vorheriges Kapitel Time-Resolved Photoemission Electron Microscopy

Nächstes Kapitel Tip-Enhanced Raman Scattering

Terada, Y., Yoshida, S., Takeuchi, O., Shigekawa, H.: Laser-combined STM for probing ultrafast transient dynamics. J. Phys.: Condens. Matter 22, 264008–264015 (2010)

Loth, S., Etzkorn, M., Lutz, C.P., Eigler, D.M., Heinrich, A.J.: Controlled charge switching on a single donor with a scanning tunneling microscope. Science 329, 1628–1630 (2010)CrossRef

Terada, Y., Yoshida, S., Takeuchi, O., Shigekawa, H.: Real space imaging of transient carrier dynamics by nanoscale pump-probe microscopy. Nat. Photonics 4, 869–874 (2010)CrossRef

Cocker, T.L., Jelic, V., Gupta, M., Molesky, S., Burgess, J.J., De Los Reyes, G., Titova, L.V., Tsui, Y.Y., Freeman, M.R., Hegmann, F.A.: An ultrafast terahertz scanning tunneling microscope. Nat. Photonics 7, 620–625 (2013)CrossRef

Yoshida, S., Aizawa, Y., Wang, Z., Oshima, R., Mera, Y., Matsuyama, E., Oigawa, H., Takeuchi, O., Shigekawa, H.: Probing ultrafast spin dynamics with optical pump-probe scanning tunnelling microscopy. Nat. Nanotechnol. 9, 588–593 (2014)CrossRef

Shah, J.: Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures. Springer, Berlin (1999)CrossRef

Yoshioka, K., Katayama, I., Minami, Y., Kitajima, M., Yoshida, S., Shigekawa, H., Takeda, J.: Real-space coherent manipulation of electrons in a single tunnel junction by single-cycle terahertz fields. Nat. Photonics 10, 762–765 (2016)CrossRef

Shigekawa, H., Yoshida, S., Takeuchi, O.: Spectroscopy: nanoscale terahertz spectroscopy. Nat. Photonics News Views 8, 815–817 (2014)CrossRef

Loth, S., Burgess, J.A.J., Yan, S.: Close-up on spin coherence. Nat. Nanotechnol. 9, 574–575 (2014)CrossRef

10.

Yoshida, S., Yokota, M., Takeuchi, O., Oigawa, H., Mera, Y., Shigekawa, H.: Single-atomic-level probe of transient carrier dynamics by laser-combined scanning tunneling microscopy. Appl. Phys. Express 6, 032401 (2013)CrossRef

Titel: Time-Resolved Scanning Tunneling Microscopy
verfasst von: Hidemi Shigekawa
Verlag: Springer Singapore
Buch: Compendium of Surface and Interface Analysis
Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018
DOI: https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_120

Premium Partner

Marktübersichten

Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.

Zur Marktübersicht